设备名称
微纳器件电学测量探针台及半导体性能测试仪
所属分类
仪器设备
型号
生产厂商
PRCBE
出厂年月
出厂号
放置地点
B309
产品描述
管理员：侯晓霞
邮箱：houxiaxia@nju.edu.cn
预约系统：https://mesochem.nju.edu.cn
1.配备有keithley 4200半导体测试仪，包括：半导体特性分析系统、中功率源测量单元、高功率源测量单元、电容-电压测量单元。
2.对纳米材料如一维的纳米线，二维的纳米片，以及金属电极等材料进行微操作，进行材料和器件之间的组装和构建
