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仪器设备
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微纳器件电学测量探针台及半导体性能测试仪
设备名称

微纳器件电学测量探针台及半导体性能测试仪

所属分类
没有此类产品
型号
生产厂商
PRCBE
出厂年月
出厂号
放置地点
B309
详细介绍

1.配备有keithley 4200半导体测试仪,包括:半导体特性分析系统、中功率源测量单元、高功率源测量单元、电容-电压测量单元。

2.对纳米材料如一维的纳米线,二维的纳米片,以及金属电极等材料进行微操作,进行材料和器件之间的组装和构建

 

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暂未实现,敬请期待
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